Просмотр коллекции по группе - Источники Аналитика и контроль. 2010. № 2

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
или введите несколько первых букв:  
Отображение результатов 1 до 7 из 7
Дата публикацииНазваниеАвторы
2010Contents. Analitika i kontrol. 2009. Vol. 14, № 2-
2010Определение бора в геологических пробах атомно-эмиссионным спектральным методом с применением дугового двухструйного плазмотронаЗаякина, С. Б.; Аношин, Г. Н.; Zayakina, S. B.; Anoshin, G. N.
2010Определение содержания и валентного состояния железа и марганца в железомарганцевых конкрециях по эмиссионным линиям K-серии рентгеновского флуоресцентного спектраЧубаров, В. М.; Финкельштейн, А. Л.; Гранина, Л. З.; Chubarov, V. М.; Finkelshtein, А. L.; Granina, L. Z.
2010Основной химический состав и содержание некоторых микрокомпонентов в минеральных водах Обуховского месторожденияЖернакова, З. М.; Деева, Н. Н.; Москаленко, Н. И.; Молчанова, Н. Г.; Zhernakova, Z. M.; Deeva, N. N.; Moskalenko, N. I.; Molchanova, N. G.
2010Особенности методик анализа геологических образцов с использованием рентгенофлуоресцентных спектрометров с полным внешним отражением (TXRF)Ревенко, А. Г.; Revenko, A. G.
2010Прямой атомно-эмиссионный спектральный анализ оксида вольфрама с использованием дуги постоянного тока и двухструйной дуговой плазмыКомиссарова, Л. Н.; Моисеенко, Е. П.; Заксас, Н. П.; Сапрыкин, А. И.; Komissarova, L. N.; Moiseenko, E. P.; Zaksas, N. P.; Saprykin, A. I.
2010Электронная микроскопия для изучения микрокапсулированных объектовШирокова, А. Г.; Пасечник, Л. А.; Борисов, С. В.; Яценко, С. П.; Shirokova, A. G.; Pasechnik, L. A.; Borisov, S. V.; Yatsenko, S. P.