Электронный научный архив УрФУ: Просмотр архива электронных ресурсов

Просмотр коллекции по группе - Источники 2-ая Уральская школа молодых ученых «Современные нанотехнологии. Сканирующая зондовая микроскопия». — Екатеринбург, 2011

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
или введите несколько первых букв:

Отображение результатов 6 до 7 из 7 < назад

Дата публикации	Название	Авторы
2011	Опыт использования конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния для исследования композиционных наноматериалов	Аликин, Д. О.; Шур, В. Я.; Зеленовский, П. С.; Николаева, Е. В.; Небогатиков, М.С.
2011	Применение метода сканирующей микроскопии пьезоэлектрического отклика для исследования доменной структуры монокристаллов релаксорного сегнетоэлектрика ниобата бария стронция	Шихова, В. А.; Шур, В. Я.; Пелегов, Д. В.; Иевлев, А. В.; Подольный, С. А.; Болячкин, А. С.; Ивлева, Л. И.; Dec, J.

Отображение результатов 6 до 7 из 7 < назад