1. Электронный научный архив УрФУ

Просмотр коллекции по группе - По автору Чичерская, А. Л.

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
или введите несколько первых букв:  
Отображение результатов 1 до 8 из 8
Дата публикацииНазваниеАвторы
2014Изготовление мер толщины покрытия Ni-P для градуировки атомно-эмиссионного спектрометра с тлеющим разрядом GDS 850 AЧичерская, А. Л.; Пупышев, А. А.
2015Измерение скорости катодного распыления металлов и сплавов для проведения послойного анализа покрытий методом атомно-эмиссионной спектрометрии с тлеющим разрядомЧичерская, А. Л.; Пупышев, А. А.
2015Определение толщины гальванических покрытий Ni-P, Sn-Bi и Sn-Pb методом атомно-эмиссионной спектрометрии с тлеющим разрядом постоянного токаЧичерская, А. Л.; Пупышев, А. А.; Chicherskaia, A. L.; Pupyshev, A. A.
2013Определение характеристик распыления электролитического покрытия Ni-P с использованием атомно-эмиссионного спектрометра с тлеющим разрядом GDS 850 AЧичерская, А. Л.; Пупышев, А. А.
2014Определение характеристик распыления электролитического покрытия Ni-P с использованием атомно-эмиссионного спектрометра с тлеющим разрядом GDS 850 AЧичерская, А. Л.; Пупышев, А. А.; Chicherskaya, A. L.; Pupyshev, A. A.
2016Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата химических наук : 02.00.02Чичерская, А. Л.
2016Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока : диссертация на соискание ученой степени кандидата химических наук : 02.00.02Чичерская, А. Л.
2015Скорость распыления металлов в тлеющем разряде постоянного тока, используемом в атомно-эмиссионной спектрометрииЧичерская, А. Л.; Пупышев, А. А.; Chicherskaya, A. L.; Pupyshev, A. A.
Отображение результатов 1 до 8 из 8