ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/87893| Название: | Моделирование профиля рентгеновских дифракционных отражений образцов с бимодальным распределением по размеру частиц |
| Другие названия: | SIMULATION OF X-RAY DIFFRACTION PROFILE REFLECTIONS OF THE SAMPLES WITH A BIMODAL PARTICLE SIZE DISTRIBUTION |
| Авторы: | Бельков, A. M. Белькова, Т. Д. Курлов, A. C. Веl'коѵ, A. M. Bel’kova, T. D. Kurlov, A. S. |
| Дата публикации: | 2015 |
| Издатель: | Уральский федеральный университет |
| Библиографическое описание: | Бельков A. M. Моделирование профиля рентгеновских дифракционных отражений образцов с бимодальным распределением по размеру частиц / A. M. Бельков, Т. Д. Белькова, A. C. Курлов // II Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации. ФТИ-2015» : тезисы докладов (Екатеринбург, 20–24 апреля 2015 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2015. — C. 220-221. |
| Аннотация: | The profile of X-ray diffraction peaks in the spectra of the powder mixtures was simulated. Various mixtures of microcrystalline and nanocrystalline powders of hexagonal (sp.gr. P6m2) tungsten carbide WC were studied. According to the preliminary estimates, the profile of the Bragg reflection can determine heterogeneity of the grain size. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/87893 |
| Конференция/семинар: | II Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации. ФТИ-2015» Second International Youth Scientific Conference «Physics. Technologies. Innovations. PTI-2015» |
| Дата конференции/семинара: | 20.04.2015-24.04.2015 |
| ISBN: | 978-5-8295-0349-9 |
| Источники: | Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2015). — Екатеринбург, 2015 |
| Располагается в коллекциях: | Конференции, семинары |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-8295-0349-9_2015_131.pdf | 1,12 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.