Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/87191
Название: Влияние облучения быстрыми нейтронами на рентгеновские фотоэлектронные спектры стекол BeO-PbO-SiO2
Авторы: Жидков, И. С.
Зацепин, А. Ф.
Кучеров, А. А.
Михайлович, А. П.
Чолах, С. О.
Дата публикации: 2014
Издатель: Уральский федеральный университет
Библиографическое описание: Влияние облучения быстрыми нейтронами на рентгеновские фотоэлектронные спектры стекол BeO-PbO-SiO2 / И. С. Жидков, А. Ф. Зацепин, А. А. Кучеров, А. П. Михайлович, С. О. Чолах // I Международная молодежная научная конференция, посвященная 65-летию основания Физико-технологического института : тезисы докладов (Екатеринбург, 21–25 апреля 2014 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2014. — C. 214-215.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/87191
Конференция/семинар: I Международная молодежная научная конференция, посвященная 65-летию основания Физико-технологического института
Дата конференции/семинара: 21.04.2014-25.04.2014
Сведения о поддержке: Работа выполнена при поддержке РФФИ (грант № 12-08-00852) и Уральского федерального университета в рамках конкурса молодых ученых.
Источники: Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2014). — Екатеринбург, 2014
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
fti_2014_158.pdf236,01 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.