Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/82056
Название: Программа для определения ширины запрещенной зоны полупроводников (Semiconductor Band Gap)
Номер патента: 2020611004
Авторы: Кузнецова, Ю. А.
Зацепин, А. Ф.
Борисихин, А. А.
Дата публикации: 2020-01-23
Аннотация: Программа предназначена для определения ширины запрещенной зоны полупроводников (германия и кремния) на основе температурной зависимости удельной проводимости. Методика расчета, на которой основывается принцип программы, позволяет вычислять ширину энергетической щели при помощи имеющихся данных – графиков, иллюстрирующих зависимость удельной электропроводимости от температуры. Инструмент, моделирующий графические зависимости, базируется на расчете удельной электропроводности как экспоненциальной функции обратной температуры и задействует широкий интервал температур, включая комнатную. Программа может быть использована как в учебных целях (для проведения лабораторных работ студентов по дисциплинам «Физика конденсированного состояния» и «Функциональные материалы микро- и наноэлектроники»), так и в научно-исследовательских (количественный анализ экспериментальных результатов). Тип ЭВМ: IBM PC-совмест. ПК; ОС: Windows 7.
Ключевые слова: COMPUTER SOFTWARE
ПРОГРАММА ДЛЯ ЭВМ
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/82056
Идентификатор РИНЦ: 42499194
Идентификатор PURE: 12551267
Вид РИД: Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ
Патентообладатель: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б. Н. Ельцина»
Располагается в коллекциях:Патенты и изобретения

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
2020611004.pdf192,98 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.