Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80821
Название: Use of EELS STEM technique to estimate the depth profile of tungsten oxide reduction under proton irradiation
Авторы: Dementyeva, M. M.
Prikhodko, K. E.
Gurovich, B. A.
Kutuzov, L. V.
Komarov, D. A.
Дата публикации: 2018
Издатель: Ural Federal University
Библиографическое описание: Use of EELS STEM technique to estimate the depth profile of tungsten oxide reduction under proton irradiation / M. M. Dementyeva, K. E. Prikhodko, B. A. Gurovich, L. V. Kutuzov, D. A. Komarov // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 114-115.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80821
Конференция/семинар: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"
Дата конференции/семинара: 26.08.2018-29.08.2018
ISBN: 978-5-9500624-1-4
Источники: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_081.pdf359,28 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.