ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/80736| Название: | Formation of memristor structures based on ZnO thin films by scratching probe nanolithography |
| Авторы: | Tominov, R. V. Avilov, V. I. Klimin, V. S. Smirnov, V. A. Chernenko, N. E. |
| Дата публикации: | 2018 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Formation of memristor structures based on ZnO thin films by scratching probe nanolithography / R. V. Tominov, V. I. Avilov, V. S. Klimin, V. A. Smirnov, N. E. Chernenko // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 217-218. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/80736 |
| Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials" |
| Дата конференции/семинара: | 26.08.2018-29.08.2018 |
| ISBN: | 978-5-9500624-1-4 |
| Сведения о поддержке: | This work was supported by Grant of the President of the Russian Federation No. MK-2721.2018.8. and by RFBR according to the research project № 18-37-00299 |
| Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-1-4_2018_155.pdf | 483,51 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.