Electrical properties and polarization switching in polycrystalline BiFeO3 thin films

Araujo, E. B.; Alikin, D. O.; Reis, S. P.; Shur, V. Ya.; Kholkin, A. L.; Шур, В. Я.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80697

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Araujo, E. B.	en
dc.contributor.author	Alikin, D. O.	en
dc.contributor.author	Reis, S. P.	en
dc.contributor.author	Shur, V. Ya.	en
dc.contributor.author	Kholkin, A. L.	en
dc.contributor.author	Шур, В. Я.	ru
dc.date.accessioned	2020-03-24T06:59:20Z	-
dc.date.available	2020-03-24T06:59:20Z	-
dc.date.issued	2018	-
dc.identifier.citation	Electrical properties and polarization switching in polycrystalline BiFeO3 thin films / E. B. Araujo, D. O. Alikin, S. P. Reis, V. Ya. Shur, A. L. Kholkin // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 21.	en
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-1-4	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/80697	-
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018	en
dc.title	Electrical properties and polarization switching in polycrystalline BiFeO3 thin films	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"	en
dc.conference.date	26.08.2018-29.08.2018	-
local.description.firstpage	21	-
local.description.lastpage	21	-
local.description.order	I-07	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-1-4_2018_012.pdf		415,21 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.