ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/80688| Название: | Scanning capacitance microscopy of TGS − TGS + Cr ferroelectric crystals |
| Авторы: | Gainutdinov, R. V. Belugina, N. V. Lashkova, A. K. Sorokina, K. L. Shut, V. N. Kashevich, I. F. Mozzharov, S. E. Tolstikhina, A. L. |
| Дата публикации: | 2018 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Scanning capacitance microscopy of TGS ? TGS + Cr ferroelectric crystals / R. V. Gainutdinov, N. V. Belugina, A. K. Lashkova, K. L. Sorokina, V. N. Shut, I. F. Kashevich, S. E. Mozzharov, A. L. Tolstikhina // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 156-157. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/80688 |
| Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials" |
| Дата конференции/семинара: | 26.08.2018-29.08.2018 |
| ISBN: | 978-5-9500624-1-4 |
| Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-1-4_2018_111.pdf | 663,67 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.