Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79203
Название: Scienta-Omicron high-end UHV SPM modern instrumentation
Авторы: Trusov, M. A.
Minin, M. G.
Дата публикации: 2019
Издатель: Ural Federal University
Библиографическое описание: Trusov M. A. Scienta-Omicron high-end UHV SPM modern instrumentation / M. A. Trusov, M. G. Minin // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 75.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79203
Конференция/семинар: 3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"
Дата конференции/семинара: 25.08.2019-28.08.2019
ISBN: 978-5-9500624-2-1
Источники: Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_060.pdf10,26 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.