ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/79187| Название: | THz time-domain spectroscopic ellipsometry with simultaneous measurements of orthogonal polarizations |
| Авторы: | Guo, Q. Zhang, Y. Lyu, Zh. Zhang, D. -W. Huang, Y. -D. Meng, C. Zhao, Z. -X. Yuan, J. -M. |
| Дата публикации: | 2019 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | THz time-domain spectroscopic ellipsometry with simultaneous measurements of orthogonal polarizations / Q. Guo, Y. Zhang, Zh. Lyu, D. -W. Zhang, Y. -D. Huang, C. Meng, Z. -X. Zhao, J. -M. Yuan // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 57-58. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/79187 |
| Конференция/семинар: | 3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials" |
| Дата конференции/семинара: | 25.08.2019-28.08.2019 |
| ISBN: | 978-5-9500624-2-1 |
| Источники: | Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-2-1_2019_046.pdf | 165,83 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.