Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79165
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorVolk, T. R.en
dc.contributor.authorGainutdinov, R. V.en
dc.contributor.authorBodnarchuk, Ya. V.en
dc.contributor.authorXiaoyong Weien
dc.contributor.authorXin Liuen
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:19Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:19Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationVolk T. R. AFM domain patterning in structurally disordered ferroelectric crystals / T. R. Volk, R. V. Gainutdinov, Ya. V. Bodnarchuk, Xiaoyong Wei, Xin Liu // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 33-34.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79165-
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titleAFM domain patterning in structurally disordered ferroelectric crystalsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage33-
local.description.lastpage34-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_026.pdf374,92 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.