ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/79007| Название: | Piezoresponse force microscopy and electron backscattering diffraction of 90° ferroelectric twins in BaTiO3 positive temperature coefficient (PTC) thermistors |
| Авторы: | Tofail, S. A. M. Karimi-Jafari, M. Stapleton, A. Guo, Y. Kowal, K. Chovan, D. Kailas, L. Gandhi, A. O’Sullivan, K. Maher, A. Silien, C. Ul-Haq, E. |
| Дата публикации: | 2019 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Piezoresponse force microscopy and electron backscattering diffraction of 90° ferroelectric twins in BaTiO3 positive temperature coefficient (PTC) thermistors / S. A. M. Tofail, M. Karimi-Jafari, A. Stapleton, Y. Guo, K. Kowal, D. Chovan, L. Kailas, A. Gandhi, K. O’Sullivan, A. Maher, C. Silien, E. Ul-Haq // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 16. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/79007 |
| Конференция/семинар: | 3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials" |
| Дата конференции/семинара: | 25.08.2019-28.08.2019 |
| ISBN: | 978-5-9500624-2-1 |
| Сведения о поддержке: | The authors acknowledge funding from the European Union's Horizon 2020 research and innovation program, OYSTER (Open characterisation and modelling environment to drive innovation in advanced nanoarchitectured and bio-inspired hard/soft interfaces) under grant agreement No 760827, Enterprise Ireland, Innovation Partnership Programme (Project No: IP/2013/0281), Irish Research Council postgraduate scholarship and Higher Education Authority (HEA). |
| Источники: | Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-2-1_2019_010.pdf | 306,66 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.