Оптическая спектрометрия с тлеющим разрядом (GD-OES) в анализе покрытий

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/56859

Название:	Оптическая спектрометрия с тлеющим разрядом (GD-OES) в анализе покрытий
Авторы:	Вейс, З.
Дата публикации:	2000
Издатель:	Уральский государственный технический университет
Библиографическое описание:	Вейс З. Оптическая спектрометрия с тлеющим разрядом (GD-OES) в анализе покрытий / З. Вейс // Аналитика и контроль. — 2000. — № 3. — С. 232-243.
Аннотация:	Коротко рассмотрены принципы и методология оптической эмиссионной спектрометрии с тлеющим разрядом (GD-OES). На некоторых примерах, включая послойный анализ покрытий из цинка, цинковых сплавов и азотированной стали, показаны аналитические возможности метода.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/56859
Источники:	Аналитика и контроль. 2000. № 3
Располагается в коллекциях:	Аналитика и контроль

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
aik-2000-03-03.pdf		4,86 MB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.