Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/51228
Название: MxTiSe2 (M=Cr, Mn, Cu) electronic structure study by methods of resonance X-ray photoemission spectroscopy and X-ray absorption spectroscopy
Авторы: Shkvarin, A. S.
Yarmoshenko, Yu. M.
Yablonskikh, M. V.
Skorikov, N. A.
Merentsov, A. I.
Kuznetsov, M. V.
Titov, A. N.
Дата публикации: 2012
Библиографическое описание: MxTiSe2 (M=Cr, Mn, Cu) electronic structure study by methods of resonance X-ray photoemission spectroscopy and X-ray absorption spectroscopy / A. S. Shkvarin, Yu. M. Yarmoshenko, M. V. Yablonskikh, N. A. Skorikov, A. I. Merentsov, M. V. Kuznetsov, A. N. Titov // Journal of Physics and Chemistry of Solids. — 2012. — Vol. 73. — № 12. — P. 1562-1565.
Аннотация: Intercalation of Cu and Mn between the layers of TiSe 2 leads to the charge transfer from the doped atom to Ti atoms, electronic states of which form the conduction band of TiSe 2. This situation drastically differs from another one being observed during intercalation of other transition metals into TiSe 2 that leads to the formation of covalent complexes consisting of intercalated atom and nearest neighborhood of the host lattice. Substitution of Ti by Cr in the host lattice positions does not show both charge transfer nor formation of covalent complexes. © 2012 ElsevierLtd. Allrightsreserved.
Ключевые слова: C. PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY
D. ELECTRONIC STRUCTURE
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/51228
Условия доступа: info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
Идентификатор SCOPUS: 84867576089
Идентификатор WOS: 000310925900038
Идентификатор PURE: 1069026
ISSN: 0022-3697
DOI: 10.1016/j.jpcs.2012.04.012
Располагается в коллекциях:Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
10.1016j.jpcs.2012.04.012_2012.pdf630,21 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.