Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://hdl.handle.net/10995/45760
Название: Исследование поведения поверхностных дефектов в процессах ОМД
Авторы: Шихов, С. Е.
Логинов, Ю. Н.
Научный руководитель: Логинов, Ю. Н.
Дата публикации: 2004
Издатель: Уральский государственный технический университет - УПИ
Библиографическое описание: Шихов С. Е. Исследование поведения поверхностных дефектов в процессах ОМД / С. Е. Шихов, Ю. Н. Логинов // Научные труды VI отчетной конференции молодых ученых ГОУ ВПО УГТУ-УПИ: сборник статей. В 2-х ч. — Екатеринбург: УГТУ-УПИ, 2004. — Ч. 1. — С. 27-27.
URI: http://hdl.handle.net/10995/45760
Источники: Научные труды VI отчетной конференции молодых ученых ГОУ ВПО УГТУ-УПИ. Ч. 1. — Екатеринбург, 2004.
Вестник УГТУ-УПИ. Специальный выпуск, в 2-х ч. 2004. Ч. 1.
Располагается в коллекциях:Междисциплинарные конференции, семинары, сборники

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
ntmu_2004_1_003.pdf139,24 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.