ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/40462| Название: | Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата химических наук : 02.00.02 |
| Авторы: | Чичерская, А. Л. |
| Научный руководитель: | Пупышев, А. А. |
| Дата публикации: | 2016 |
| Библиографическое описание: | Чичерская А. Л. Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата химических наук : 02.00.02 / А. Л. Чичерская ; [Место защиты: Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б.Н. Ельцина]. — Екатеринбург, 2016. — 24 с. : ил. — Библиогр.: с. 23-24 (12 назв.). |
| Ключевые слова: | АВТОРЕФЕРАТЫ АНАЛИТИЧЕСКАЯ ХИМИЯ |
| Код специальности ВАК: | 02.00.02 |
| Специальность: | Аналитическая химия |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/40462 |
| Условия доступа: | Предоставлено автором на условиях простой неисключительной лицензии |
| Текст лицензии: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/31613 |
| Располагается в коллекциях: | Авторефераты и диссертации |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| urfu1573.pdf | 1,04 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.