1. Электронный научный архив УрФУ

Поиск


Текущие фильтры:


Очистить
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.

 | 
Результаты 1-10 из 15.
Найденные ресурсы:
Дата публикацииНазваниеАвторы
2016Sn-loss effect in a Sn-implanted a-SiO 2 host-matrix after thermal annealing: A combined XPS, PL, and DFT studyZatsepin, D. A.; Zatsepin, A. F.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Gavrilov, N. V.
2016Electronic structure and photoluminescence properties of Zn-ion implanted silica glass before and after thermal annealingZatsepin, D. A.; Zatsepin, A. F.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Pchelkina, Z. V.; Gavrilov, N. V.
2016XPS and DFT study of pulsed Bi-implantation of bulk and thin-films of ZnO—The role of oxygen imperfectionsZatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Gavrilov, N. V.; Kurmaev, E. Z.; Zhidkov, I. S.
2015Modification of titanium and titanium dioxide surfaces by ion implantation: Combined XPS and DFT studyBoukhvalov, D. W.; Korotin, D. M.; Efremov, A. V.; Kurmaev, E. Z.; Borchers, C.; Zhidkov, I. S.; Gunderov, D. V.; Valiev, R. Z.; Gavrilov, N. V.; Cholakh, S. O.
2017Atomic and electronic structure of a copper/graphene interface as prepared and 1.5 years afterBoukhvalov, D. W.; Bazylewski, P. F.; Kukharenko, A. I.; Zhidkov, I. S.; Ponosov, Y. S.; Kurmaev, E. Z.; Cholakh, S. O.; Lee, Y. H.; Chang, G. S.
2016Pleomorphic structural imperfections caused by pulsed Bi-implantation in the bulk and thin-film morphologies of TiO 2Zatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Gavrilov, N. V.; Kim, S. S.; Zhidkov, I. S.
2015Characterization of TiAlSiON coatings deposited by plasma enhanced magnetron sputtering: XRD, XPS, and DFT studiesKamenetskih, A. S.; Kukharenko, A. I.; Kurmaev, E. Z.; Skorikov, N. A.; Gavrilov, N. V.; Cholakh, S. O.; Chukin, A. V.; Zainullina, V. M.; Korotin, M. A.
2019Optical transparency and local electronic structure of Yb-doped Y 2 O 3 ceramics with tetravalent additivesZhidkov, I. S.; Kukharenko, A. I.; Maksimov, R. N.; Finkelstein, L. D.; Cholakh, S. O.; Osipov, V. V.; Kurmaev, E. Z.
2015Structural defects and electronic structure of N-ion implanted TiO 2 : Bulk versus thin filmZatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Zhidkov, I. S.; Gavrilov, N. V.; Korotin, M. A.; Kim, S. S.
2012Formation of Mn-oxide clusters in Mn +-implanted SiO 2 probed by soft X-ray emission and absorption spectroscopyZatsepin, D. A.; Moewes, A.; Hunt, A.; Gavrilov, N. V.; Kurmaev, E. Z.; Cholakh, S. O.

Фильтр