1. Электронный научный архив УрФУ

Поиск


Текущие фильтры:


Очистить
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.

 | 
Результаты 1-10 из 20.
Найденные ресурсы:
Дата публикацииНазваниеАвторы
2016Sn-loss effect in a Sn-implanted a-SiO 2 host-matrix after thermal annealing: A combined XPS, PL, and DFT studyZatsepin, D. A.; Zatsepin, A. F.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Gavrilov, N. V.
2015Octahedral conversion of a-SiO2 host matrix by pulsed ion implantationZatsepin, D. A.; Zatsepin, A. F.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Gavrilov, N. V.; Skorikov, N. A.; von, Czarnowski, A.; Fitting, H. -J.
2017Bulk vs. Surface Structure of 3d Metal Impurities in Topological Insulator Bi2Te3Leedahl, B.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Kukharenko, A.; Zhidkov, I. S.; Gavrilov, N. V.; Cholakh, S. O.; Le, P. Huu; Luo, C. Wei; Moewes, A.
2017Enhanced clustering tendency of Cu-impurities with a number of oxygen vacancies in heavy carbon-loaded TiO2 - the bulk and surface morphologiesZatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Zatsepin, A. F.; Kim, S. S.; Gavrilov, N. V.; Zhidkov, I. S.
2016Electronic structure and photoluminescence properties of Zn-ion implanted silica glass before and after thermal annealingZatsepin, D. A.; Zatsepin, A. F.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Pchelkina, Z. V.; Gavrilov, N. V.
2016XPS and DFT study of pulsed Bi-implantation of bulk and thin-films of ZnO—The role of oxygen imperfectionsZatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Gavrilov, N. V.; Kurmaev, E. Z.; Zhidkov, I. S.
2015XPS and DFT study of Sn incorporation into ZnO and TiO2 host matrices by pulsed ion implantationZatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Zhidkov, I. S.; Kim, S. S.; Cui, L.; Gavrilov, N. V.; Cholakh, S. O.
2015Modification of titanium and titanium dioxide surfaces by ion implantation: Combined XPS and DFT studyBoukhvalov, D. W.; Korotin, D. M.; Efremov, A. V.; Kurmaev, E. Z.; Borchers, C.; Zhidkov, I. S.; Gunderov, D. V.; Valiev, R. Z.; Gavrilov, N. V.; Cholakh, S. O.
2014Local structure of fe impurity atoms in ZnO: Bulk versus surfaceMcLeod, J. A.; Boukhvalov, D. W.; Zatsepin, D. A.; Green, R. J.; Leedahl, B.; Cui, L.; Kurmaev, E. Z.; Zhidkov, I. S.; Finkelstein, L. D.; Gavrilov, N. V.; Cholakh, S. O.; Moewes, A.
2017Atomic and electronic structure of a copper/graphene interface as prepared and 1.5 years afterBoukhvalov, D. W.; Bazylewski, P. F.; Kukharenko, A. I.; Zhidkov, I. S.; Ponosov, Y. S.; Kurmaev, E. Z.; Cholakh, S. O.; Lee, Y. H.; Chang, G. S.

Фильтр