1. Электронный научный архив УрФУ

Поиск


Текущие фильтры:


Очистить
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.

 | 
Результаты 1-10 из 18.
Найденные ресурсы:
Дата публикацииНазваниеАвторы
2016Physical properties of strontium barium niobate thin films prepared by polymeric chemical methodMelo, M.; Araujo, E. B.; Turygin, A. P.; Shur, V. Y.; Kholkin, A. L.; Шур, В. Я.
2016Characterization of LiMn2O4 cathodes by electrochemical strain microscopyAlikin, D. O.; Ievlev, A. V.; Luchkin, S. Y.; Turygin, A. P.; Shur, V. Y.; Kalinin, S. V.; Kholkin, A. L.; Шур, В. Я.
2019Domain diversity and polarization switching in amino acid β-glycineVasileva, D.; Vasilev, S.; Kholkin, A. L.; Shur, V. Y.; Шур, В. Я.
2015Quantitative phase separation in multiferroic Bi0.88Sm0.12FeO3 ceramics via piezoresponse force microscopyAlikin, D. O.; Turygin, A. P.; Walker, J.; Rojac, T.; Shvartsman, V. V.; Shur, V. Y.; Kholkin, A. L.; Шур, В. Я.
2016Probing ferroelectric behaviour in charge-transfer organic meta-nitroanilineIsakov, D.; Vasilev, S.; Gomes, E. D. M.; Almeida, B.; Shur, V. Y.; Kholkin, A. L.; Шур, В. Я.
2016Thickness effect on the structure, grain size, and local piezoresponse of self-polarized lead lanthanum zirconate titanate thin filmsMelo, M.; Araújo, E. B.; Shvartsman, V. V.; Shur, V. Y.; Kholkin, A. L.; Шур, В. Я.
2017Physical properties and reentrant behavior in PLZT thin filmsMelo, M.; Araujo, E. B.; Neradovskaya, E. A.; Turygin, A. P.; Esin, A. A.; Shur, V. Y.; Kholkin, A. L.; Шур, В. Я.
2015Domain structures and local switching in lead-free piezoceramics Ba0.85Ca0.15Ti0.90Zr0.10O3Turygin, A. P.; Neradovskiy, M. M.; Naumova, N. A.; Zayats, D. V.; Coondoo, I.; Kholkin, A. L.; Shur, V. Y.; Шур, В. Я.
2016Domain wall orientation and domain shape in KTiOPO4 crystalsShur, V. Y.; Vaskina, E. M.; Pelegova, E. V.; Chuvakova, M. A.; Akhmatkhanov, A. R.; Kizko, O. V.; Ivanov, M.; Kholkin, A. L.; Шур, В. Я.
2018Decoupling Mesoscale Functional Response in PLZT across the Ferroelectric-Relaxor Phase Transition with Contact Kelvin Probe Force Microscopy and Machine LearningNeumayer, S. M.; Collins, L.; Vasudevan, R.; Smith, C.; Somnath, S.; Shur, V. Y.; Jesse, S.; Kholkin, A. L.; Kalinin, S. V.; Rodriguez, B. J.; Шур, В. Я.

Фильтр