Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/1549
Название: Учебно-методический комплекс дисциплины "Исследование наноматериалов методами сканирующей зондовой микроскопии"
Авторы: Шишкин, Е. И.
Николаева, Е. В.
Дата публикации: 2008
Издатель: б. и.
Библиографическое описание: Шишкин, Евгений Игоревич. Учебно-методический комплекс дисциплины "Исследование наноматериалов методами сканирующей зондовой микроскопии" [Электронный ресурс] / Е. И. Шишкин, Е. В. Николаева ; Федер. агентство по образованию, Урал. гос. ун-т им. А. М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы" [и др.]. — Электрон. дан. (18 Мб). — Екатеринбург : [б. и.], 2008.
Аннотация: Целью специальной дисциплины "Исследование наноматериалов методами сканирующей зондовой микроскопии" является теоретическое и практическое ознакомление студентов с одним из наиболее мощных и универсальных современных методов исследования морфологии и локальных свойств поверхности твердых тел с нанометровым пространственным разрешением. Задачи дисциплины: обзор методик сканирующей зондовой микроскопии, позволяющих исследовать локальные свойства поверхности твердых тел с высоким пространственным разрешением; - приобретение практических навыков использования сканирующей зондовой микроскопии для исследования наноматериалов с нанометровым пространственным разрешением; - знакомство с методами математической обработки и количественного анализа изображений, получаемых с помощью сканирующей зондовой микроскопии. УМКД включает программу дисциплины, руководство к лабораторным работам и практическим занятиям, вопросы для самоконтроля, методические указания, экзаменационные материалы, презентации лекций. Предназначен для студентов 3 курса.
Ключевые слова: НАНОТЕХНОЛОГИИ
НАНОМАТЕРИАЛЫ
УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКИЕ ПОСОБИЯ ДЛЯ ВУЗОВ
СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/1549
Располагается в коллекциях:Нанотехнологии и перспективные материалы



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.