Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10995/1548
Title: Учебно-методический комплекс дисциплины "Исследование наноматериалов методами сканирующей электронной микроскопии"
Authors: Кузнецов, Д. К.
Колосов, В. Ю.
Issue Date: 2008
Publisher: б. и.
Citation: Кузнецов, Дмитрий Константинович. Учебно-методический комплекс дисциплины "Исследование наноматериалов методами сканирующей электронной микроскопии" [Электронный ресурс] / Д. К. Кузнецов, В. Ю. Колосов ; Федер. агентство по образованию, Урал. гос. ун-т им. А. М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы" [и др.]. — Электрон. дан. (1,17 Мб). — Екатеринбург : [б. и.], 2008.
Abstract: Целью специальной дисциплины "Исследование наноматериалов методами сканирующей электронной микроскопии" является ознакомление студентов с новейшими достижениями в сканирующей микроскопии и ее применения для исследования наноматериалов. Задачи дисциплины: обзор основных методов сканирующей электронной микроскопии, применяемых для исследования нанообъектов, - обзор основных тенденций развития сканирующей электронной микроскопии в мире. Предназначен для студентов 4 курса. УМКД включает программу дисциплины, вопросы для самоконтроля, методические указания, экзаменационные материалы.
Keywords: НАНОТЕХНОЛОГИИ
НАНОМАТЕРИАЛЫ
ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ
УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКИЕ ПОСОБИЯ ДЛЯ ВУЗОВ
СКАНИРУЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
URI: http://hdl.handle.net/10995/1548
http://elar.urfu.ru/handle/10995/1548
Appears in Collections:Нанотехнологии и перспективные материалы

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
1334959_exam.pdf105,35 kBAdobe PDFView/Open
1334959_methodinst.pdf276,69 kBAdobe PDFView/Open
1334959_tests.pdf108,61 kBAdobe PDFView/Open
1334959_program.pdf259,8 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.