Просмотр коллекции по группе - По тематике ION IMPLANTATION

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
или введите несколько первых букв:  
Отображение результатов 1 до 19 из 19
Дата публикацииНазваниеАвторы
2016Atomic structure of cascades of atomic displacements in metals and alloys after different types of radiationIvchenko, V. A.
2014Defects and localized states in silica layers implanted with lead ionsZatsepin, A. F.; Fitting, H. -J.; Buntov, E. A.; Pustovarov, V. A.; Schmidt, B.
2016Electronic structure and photoluminescence properties of Zn-ion implanted silica glass before and after thermal annealingZatsepin, D. A.; Zatsepin, A. F.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Pchelkina, Z. V.; Gavrilov, N. V.
2012Formation of Mn-oxide clusters in Mn +-implanted SiO 2 probed by soft X-ray emission and absorption spectroscopyZatsepin, D. A.; Moewes, A.; Hunt, A.; Gavrilov, N. V.; Kurmaev, E. Z.; Cholakh, S. O.
2013The formation of Ti-O tetrahedra and band gap reduction in SiO2 via pulsed ion implantationGreen, R. J.; Zatsepin, D. A.; Hunt, A.; Kurmaev, E. Z.; Gavrilov, N. V.; Moewes, A.
2012Interplay of ballistic and chemical effects in the formation of structural defects for Sn and Pb implanted silicaGreen, R. J.; Hunt, A.; Zatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; McLeod, J. A.; Kurmaev, E. Z.; Skorikov, N. A.; Gavrilov, N. V.; Moewes, A.
2015Modification of titanium and titanium dioxide surfaces by ion implantation: Combined XPS and DFT studyBoukhvalov, D. W.; Korotin, D. M.; Efremov, A. V.; Kurmaev, E. Z.; Borchers, C.; Zhidkov, I. S.; Gunderov, D. V.; Valiev, R. Z.; Gavrilov, N. V.; Cholakh, S. O.
2015Octahedral conversion of a-SiO2 host matrix by pulsed ion implantationZatsepin, D. A.; Zatsepin, A. F.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Gavrilov, N. V.; Skorikov, N. A.; von, Czarnowski, A.; Fitting, H. -J.
2013Photoluminescence of Se-related oxygen deficient center in ion-implanted silica filmsZatsepin, A. F.; Buntov, E. A.; Pustovarov, V. A.; Fitting, H.-J.; Пустоваров, В. А.
2016A photoluminescence study of CuInSe2 single crystals ion implanted with 5 keV hydrogenYakushev, M. V.; Krustok, J.; Grossberg, M.; Volkov, V. A.; Mudryi, A. V.; Martin, R. W.
2016Pleomorphic structural imperfections caused by pulsed Bi-implantation in the bulk and thin-film morphologies of TiO 2Zatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Gavrilov, N. V.; Kim, S. S.; Zhidkov, I. S.
2016Sn-loss effect in a Sn-implanted a-SiO 2 host-matrix after thermal annealing: A combined XPS, PL, and DFT studyZatsepin, D. A.; Zatsepin, A. F.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Gavrilov, N. V.
2015Structural defects and electronic structure of N-ion implanted TiO 2 : Bulk versus thin filmZatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Zhidkov, I. S.; Gavrilov, N. V.; Korotin, M. A.; Kim, S. S.
2014Structural defects induced by Fe-ion implantation in TiO2Leedahl, B.; Zatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Green, R. J.; McLeod, J. A.; Kim, S. S.; Kurmaev, E. Z.; Zhidkov, I. S.; Gavrilov, N. V.; Cholakh, S. O.; Moewes, A.
2020Temperature Effects in the Photoluminescence of Semiconductor Quantum Dots (Chapter 3)Zatsepin, A.; Biryukov, D.
2016XPS and DFT study of pulsed Bi-implantation of bulk and thin-films of ZnO—The role of oxygen imperfectionsZatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Gavrilov, N. V.; Kurmaev, E. Z.; Zhidkov, I. S.
2015XPS and DFT study of Sn incorporation into ZnO and TiO2 host matrices by pulsed ion implantationZatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Zhidkov, I. S.; Kim, S. S.; Cui, L.; Gavrilov, N. V.; Cholakh, S. O.
2018Изучение влияния термического и радиационного воздействия на структуру и свойства стали 37ХГФIbraimova, A. Z.; Selivanova, O. V.; Khotinov, V. A.; Guschina, N. V.; Ибраимова, А. З.; Селиванова, О. В.; Хотинов, В. А.; Гущина, Н. В.
1990Люминесцентные свойства кристаллов фтористого натрия, активированных ионами свинца методом имплантацииОгородников, И. Н.; Кидибаев, М. М.; Багаев, С. В.; Казак, Л. А.; Казакбаева, З. М.; Гриценко, Б. П.; Черный, С. А.