Просмотр коллекции по группе - По автору Kolomiytsev, A. S.
Отображение результатов 1 до 6 из 6
Дата публикации | Название | Авторы |
2018 | Fabrication of probes for scanning near-field optical microscopy using focused ion beam | Kolomiytsev, A. S.; Shandyba, N. A.; Panchenko, I. V.; Lisitsyn, S. A. |
2018 | Influence of the focused ion beam parameters on the etching of planar nanosized multigraphene/SiC field emitters | Jityaev, I. L.; Svetlichnyi, A. M.; Avilov, V. I.; Kots, I. N.; Kolomiytsev, A. S.; Ageev, O. A. |
2019 | Light polarization and intensity behavior in aperture cantilevers with carbon tip created by focused ion beam | Mikhailova, T. V.; Vysokikh, Yu. E.; Krasnoborodko, S. Yu.; Kolomiytsev, A. S.; Fedotov, A. A. |
2019 | Novel technology for fabrication of probe tips for SPM using focused ion beam induced deposition method | Shandyba, N. A.; Panchenko, I. V.; Kolomiytsev, A. S.; Lisitsyn, S. A. |
2019 | Resolution of the etching method of graphene/SiC using FIB | Jityaev, I. L.; Svetlichnyi, A. M.; Kolomiytsev, A. S. |
2017 | Применение фокусированных ионных пучков для формирования АСМ-зондов | Коломийцев, A. С.; Лисицын, С. А.; Федотов, А. А.; Kolomiytsev, A. S.; Lisitsyn, S. A.; Fedotov, A. A. |