Skip navigation
Главная
Просмотреть
Разделы
и коллекции
Посмотреть:
По дате
По автору
По заглавию
По тематике
Источники
Справка
Язык
English
русский
Зарегистрированным:
Авторизация
Обновления на e-mail
Редактировать профиль
Авторам
ISSN:
2310-757X
Электронный научный архив УрФУ
Просмотр коллекции по группе - По автору Eldin, S. M.
Перейти к:
0-9
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
А
Б
В
Г
Д
Е
Ж
З
И
Й
К
Л
М
Н
О
П
Р
С
Т
У
Ф
Х
Ц
Ч
Ш
Щ
Ъ
Ы
Ь
Э
Ю
Я
или введите несколько первых букв:
Сортировка:
по заглавию
по дате публикации
по дате сохранения
Упорядочить:
по возрастанию
по убыванию
Вывести на страницу:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
Авторы:
все
1
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
Отображение результатов 6 до 10 из 10
< назад
Дата публикации
Название
Авторы
2023
The Microstructure and Properties of Ni-Si-La2O3 Coatings Deposited on 304 Stainless Steel by Microwave Cladding
Dwivedi, S. P.
;
Sharma, S.
;
Sharma, K. P.
;
Kumar, A.
;
Agrawal, A.
;
Singh, R.
;
Eldin, S. M.
2023
A novel study on the influence of graphene-based nanofluid concentrations on the response characteristics and surface-integrity of Hastelloy C-276 during minimum quantity lubrication
Singh, G.
;
Sharma, S.
;
Seikh, A. H.
;
Li, C.
;
Zhang, Y.
;
Rajkumar, S.
;
Kumar, A.
;
Singh, R.
;
Eldin, S. M.
2023
Performance investigations for sustainability assessment of Hastelloy C-276 under different machining environments
Singh, G.
;
Aggarwal, V.
;
Singh, S.
;
Singh, B.
;
Sharma, S.
;
Singh, J.
;
Li, C.
;
Królczyk, G.
;
Kumar, A.
;
Eldin, S. M.
2023
Prediction and simulation of mechanical properties of borophene-reinforced epoxy nanocomposites using molecular dynamics and FEA
Banerjee, N.
;
Sen, A.
;
Ghosh, P. S.
;
Biswas, A. R.
;
Sharma, S.
;
Kumar, A.
;
Singh, R.
;
Li, C.
;
Kaur, J.
;
Eldin, S. M.
2022
Spillover Connectedness among Global Uncertainties and Sectorial Indices of Pakistan: Evidence from Quantile Connectedness Approach
Khan, S.
;
Ullah, M.
;
Shahzad, M. R.
;
Khan, U. A.
;
Khan, U.
;
Eldin, S. M.
;
Alotaibi, A. M.